报告题目：非接触式流体参数电学测量技术及其应用研究

报告人：冀海峰，浙江大学，副教授，博士

报告时间：2018年12月09日，上午10:00

报告地点：博习楼111

报告摘要：

流体参数测量是过程工业参数检测中重要的研究内容之一，电导测量技术作为一种重要测量手段一直受到广大科研工作者和工程技术人员的重视，但现有的流体参数电导检测方法多为接触式测量，电极极化、电化学反应以及电极污染极大限制了该项技术的广泛应用。针对这个问题，提出了非接触式流体参数电学测量新方法：Contactless Conductivity Detection（CCD）和Contactless Impedance Detection（CID）测量技术，结合串联谐振、模拟电感以及相敏解调等技术，实现了非接触式流体电导/电阻抗、两相流流型、流速、相含率和流量的测量；并将所提出的非接触电学测量技术，应用于过程层析成像领域，研发了新型电学层析成像技术和系统：电容耦合电阻层析成像系统（Capacitively Coupled Electrical Resistance Tomography，CCERT）和电容耦合电阻抗层析成像系统（Capacitively Coupled Electrical Impedance Tomography，CCEIT ）；最后讨论了该项技术的进展及其存在的问题。


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